集成NI SLSC模块 精准赋能HIL测试
轻松访问并与电子控制单元（ECU）或待测设备（DUT）进行交互。OPAL-RT利用商用现有组件，基于美国国家仪器有限公司（NI）的开关、负载及信号调理（SLSC）平台，打造出功能强大、开放灵活的测试系统。
赋能HIL测试
SLSC模块
SLSC平台：强大 快速 可配置
OPAl-RT全新系列的SLSC模块能够帮助用户在硬件在环（HIL）应用中实现时间和资源利用的最大化，通过灵活可配置的信号调理功能，确保信号的电平与类型准确无误，同时提供电压电平转换、分压、电压增以及滤波器集成、阻抗匹配等功能。
每张卡都内置了一个灵活的故障注入单元（FIU），通过NI的VeriStand接口向待测设备（DUT）注入故障进行测试，此时该FIU能够提供全面的继电器控制。
SLSC模块功能亮点
结构紧凑
OPAL-RT 的 SLSC 模块将故障注入单元（FIU）和信号调理功能集成在同一块卡上，既节省了机架空间，又实现了多功能一体化。
故障注入单元（FIU）
故障注入单元（FIU）能让用户更全面地了解被测单元在各种运行状况下的反应，包括意外的、不利的或发生可能性极低的情况。
信号调理
在测试/模拟信号调理阶段，可对信号进行灵活配置，确保信号的电平和类型正确无误，能够对系统测试各个环节所涉及的信号进行有效处理，全方位保障信号的质量与适配性。
灵活配置
平台及板卡自身具备灵活配置特性，从而满足不同领域用户的多样化需求和优先级考量，助力用户精准适配最佳解决方案。
灵活负载测试
帮助工程师和质检人员观测待测设备（DUT）或电控单元（ECU）在极端但受控的条件下的运行情况，从而准确评估其强度和韧性。
OP8910 32通道高速数字 I/O 调理板卡（配备故障注入单元）
高速DIO板卡，TTL/VTTL (5.0V, 3.3V) 输出，具备电气隔离功能。
功能特性
- 低延迟与高分辨率：延迟小于40ns，分辨率高达10ns
- 数字输入：可编程阈值0-50V
- 数字输出最大电流：32mA/通道，总计800mA
- 单板集成信号调理与故障注入单元（FIU）功能
OP8926 32通道数字 I/O 板卡（可选配故障注入单元）
OP8926是一款32通道数字输入/输出板卡，可选配故障注入功能。
功能特性
- <90ns的低延迟，130ns高分辨率
- 数字输入：可编程阈值0-30V
- 数字输出最大电流：50 mA每通道（550 mA每 Vuser）
- 单板集成了信号调理和故障注入（FIU）功能
OP8930 16通道模拟 I/O调理板卡（配备故障注入单元）
具有单端模拟信号的差分模拟输入功能，带宽高达250KHz，最大模拟输出电流为35mA，反向电压保护高达 ±60V。
功能特性
- 单板集成了信号调理和故障注入（FIU）功能
- I/O 调理可由用户配置，用于阻抗匹配
- 模拟滤波器或模拟分频器
OP8940 32通道转接卡（配备故障注入单元）
该板卡具备穿透模块和完整的故障注入功能。
功能特性
- 故障注入架构支持每个差分信号配备 7 个继电器
- 故障注入单元支持整块板卡带有 2 个电压基准
- 故障注入单元可对全部 112 个继电器进行独立控制
相关资源
